熔点仪 | ||||
2011-6-18 浏览 1498 次 | ||||
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WRS 产品特点: WRS一 规格及主要技术参数 1.熔点测量范围:室温~ 2.“起始温度”设定时间: 3.温度数显最小示值: 4.线性升温速率: 5.测定熔点的准确度: 6.重复性: 7.标准毛细管尺寸:外径Φ 8.样品填装高度: 9.电源:220V±22V、50Hz,100W 10.尺寸(长、宽、高):360 mm× 11.质量: 12.通讯接口:USB或RS232串行接口由触摸屏按键选择 WRS-3熔点仪
应用范围: WRS-3熔点仪采用PID技术控制温度。它的最大特点是目视测量与自动测量二用。即:将目视观察测量和光电检测自动测量组合在一台仪器上。这样,既有光电检测自动测量功能方便用户的使用;又可目视测量物质熔点,以适应深颜色样品的熔点测量的需要。所以,该仪器测量样品范围非常广泛,使用也非常方便。 主要参数: 熔点测量范围:室温至320℃ 温度数显最小示值:0.1℃ 线性升温速率:1.0℃/min(0.2℃/min;1.5℃/min;3.0℃/min可供选择) 毛细管尺寸:外径:φ1.2mm;内径:φ 填装高度:3mm 电源:AC 220V±22 V;50Hz±1 Hz 示值误差: 在环境温度为23℃±5℃时,应符合下列要求: a) 在小于 b) 在 示值重复性: 升温速率为1.0℃/min,样品的不确定度为0.3℃。 线性升温速率误差不大于名义 WRS-
应用范围: 测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,液晶显示,数字键盘输入,可直接显示熔点曲线。 性能指标 温度显示最小示值:0.1℃ 线性升温速率:0.2~5.0(℃min) 测量准确率:<200℃时:±0.5℃;200℃~300℃时:±0.8℃ SGW X
应用范围: 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 性能指标 熔点测量范围:室温至320℃ 最小读数:0.1℃ 测量重复性:±1℃(在<200℃时);±2℃(在200~300℃时) 光学放大倍数:目镜10X;物境4X SGW X-4B显微熔点仪
应用范围: 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 性能指标 熔点测量范围:室温至320℃ 最小读数:0.1℃ 测量重复性:±1℃(在<200℃时);±2℃(在200~300℃时) 配双目体视显微镜 光学放大倍数:40X-100X连续可调 WRR熔点仪
应用范围: 主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定,以便确定其纯度。测量方法完全符合药典标准。可同时测三根样品,自动计算初、终熔平均值。 性能指标 温度显示最小示值:0.1℃ 线性升温速率:0.5,1.0,1.5,3.0(℃/min) 测量准确率:<200℃时±0.5℃;≥200℃时:±0.8℃ WRS-1B数字熔点仪
应用范围: 测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字显示。配有RS232接口,可向PC机传输数据,显示熔化曲线。 性能指标 温度显示最小示值:0.1℃ 线性升温速率:0.2,0.5,1.0,1.5,2.0,3.0,4.0,5.0(℃/min) 测量准确率:<200℃±0.5℃;200℃~300℃时:±0.8℃ WRS-2微机熔点仪
应用范围: 测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,液晶显示,数字键盘输入,可直接显示熔点曲线。 性能指标 温度显示最小示值:0.1℃ 线性升温速率:0.2~5.0(℃min) 测量准确率:<200℃时:±0.5℃;200℃~300℃时:±0.8℃ SGW X-4显微熔点仪(数显)
应用范围: 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。 性能指标 熔点测量范围:室温至320℃ 测量重复性:±1℃(在<200℃时);±2℃(在200~300℃时) 光学放大倍数:目镜10X;物境4X |